中国台湾固纬GWinstek LCR-827高精密尝颁搁测试仪 LCR-827-911制品厂麻花

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中国台湾固纬GWinstek LCR-827高精密尝颁搁测试仪

简要描述：中国台湾固纬GWinstek LCR-827高精密尝颁搁测试仪

产物型号： LCR-827
品牌：
更新时间：2024-08-30
浏览次数：3096

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LCR-827中国台湾固纬GWinstek LCR-827高精密尝颁搁测试仪的详细资料：

中国台湾固纬 LCR-827（10KHz）测试仪产物介绍:

中国台湾固纬 LCR-827（10KHz）测试仪的具体介绍：

测试频率：12Hz ~ 10kHz, 489点

0.05% 高量测准确度（LCR-817/819）

0.1% 高量测准确度（LCR-816/826/827/829）

100 组设定条件记忆储存、呼出功能

R/Q, C/D, C/R, L/Q 测试模式

值、差异值（△ ）、差异百分比（△%）显示

240 x 128 大型 LCD 显示幕

选别机介面（LCR-826/827/829）

测试条件及测试结果同时显示在萤幕上

中国台湾固纬LCR-827高精密尝颁搁测试仪技术参数：

测试频率 12Hz to 100kHz （503 点） for LCR-819/829

12Hz to 10kHz （489 点） for LCR-817/827

100Hz to 2kHz （245 点） for LCR-816/826

准确度 0.05% （LCR-817/819） , 0.1%（LCR-816/826/827/829）

测试速度 34mS （LCR-826/827/829）, 68mS （LCR-816/817/819）

测试电压 5mV ~ 1.275V （5mV/step） for LCR-817/819/827/829

0.1V ~ 1.275V （5mV/step） for LCR-816/826

直流偏压 内部 2V

外部 0 to 30V

显示范围 串/并联等效阻抗 R 0.00001 ~ 99999k

电容 C 0.00001pF ~ 99999uF

电感 L 0.00001mH ~ 99999H

品质因素 Q 0.0001 ~ 9999

散逸因素 D 0.0001 ~ 9999

量测模式 R/Q, C/D, C/R, L/Q

等效电路 具串联与并联两种方式可供选择

记忆体 100 组

平均测试值 1 to 255 次

量测速度 慢速、中速及快速

量测值显示 ＆#118alue, △%, △

显示幕 240 x 128 dot matrix C.C.F.L back light LCD

介面 Handler 介面（LCR-829/827）

使用电源 100V ~ 240V, 50/60Hz

附件电源线 x 1,
操作手册 x 1,
测试制具: LCR-06A x 1
选购测试制具: LCR-05, LCR-07, LCR-08, LCR-09

尺寸及重量

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911制品厂麻花

中国台湾固纬GWinstek LCR-827高精密尝颁搁测试仪

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