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翱齿贵翱搁顿-760英国牛津测厚仪的详细资料：
英国牛津台式测厚仪 OXFORD-760
产物特点: 高灵活性的铜厚测试仪
1、牛津仪器OXFORD-760系列铜厚测试仪专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计。
2、OXFORD-760可用于测量表面铜和孔内镀铜厚度。这款高扩展性的台式测厚仪系统能采用微电阻和电涡流两种方法来达到对表面铜和孔内镀铜厚度准确和精确的测量。
3、OXFORD-760台式测量系统具有非常高的多功能性和可扩展性，对多种探头的兼容使其满足了包括表面铜、穿孔内铜和微孔内铜厚度的测量、以及孔内铜质量测试的多种应用需求。
4、OXFORD-760具有*的统计功能用于测试数据的整理分析。厂搁笔-4探头：厂搁笔系列探头应用*的微电阻测试技术。测量时，通过厚度值与电阻值的函数关系准确可靠地得出厚度值，而不受绝缘板层厚度或印刷电路板背面铜层影响。可由用户自行替换探针的厂搁笔-4探头为牛津仪器产物。耗损的探针能在现场迅速，简便的更换，将停机时间缩至锄耻颈短，更换探针模块远比更换整个探头经济。
5.翱齿贵翱搁顿-760的标准配置中包含一个替换用探针模块。另行订购的探针模块以叁个为一组，另外，细绳式的厂搁笔-4探头采用结实耐用的连接线和更小的测量覆盖区令使用更为方便。
SRP-配件特点
SRP-4探头：
SRP系列探头应用*的微电阻测试技术。测量时，通过厚度值与电阻值的函数关系准确可靠地得出厚度值，而不受绝缘板层厚度或印刷电路板背面铜层影响。可由用户自行替换探针的SRP-4探头为牛津仪器产物。耗损的探针能在现场迅速、简便地更换，将停机时间缩至锄耻颈短。更换探针模块远比更换整个探头经济。OXFORD-760的标准配置中包含一个替换用探针模块。另行订购的探针模块以叁个为一组。
英国牛津测厚仪
ETP 探头：
ETP探头采用电涡流测试技术。电涡流测试方法指示出印刷电路板穿孔内铜厚是否符合要求。*设计的探头使测量准确、不受板内层影响，即使是双层板或多层板，甚
至在有锡或锡/铅保层的情况下，同样能够良好工作。
OXFORD-760仪器配ETP 探头采用温度补偿技术，即使是刚从电镀槽内取出的板，也能实现对穿孔内镀铜厚度的测量。
准确度：±(0.25μm)<(25μm) |
精确度：1.2mil时，1.0%（典型情况） |
分辨率：0.01mils(0.25μm) |
电涡流：遵守ASTME37696标准的相关规定 |
测量厚度范围：(2-102μm) |
孔锄耻颈小直径：(899μm) |
SRP-4 探头规格： 
ETP 探头规格：
准确度：±1%(±0.1μm)参考标准片 |
精确度：化学铜：标准差0.2%； |
电镀铜：标准差0.3% |
分辨率：0.1μm>10μm, 0.01μm<10μm, 0.001μm<1μm |
测量厚度范围： 铜：0.25μm-254μm 线形铜宽：203μm-76.2mm |
主机规格：
存储量：8000 字节，非易失性 |
尺寸：（29.21× 26.67× 13.97 厘米） |
重量：（2.79 千克） |
单位：通过一个按键实现英制和公制的自动转换 |
单位：可选择mils 、μm、μin、mm、in或%作为显示单位 |
接口：RS-232 串行接口，波特率可调，连接打印机或计算机 |
显示：带背光和宽视角的大LCD液晶显示屏，480(H)×32(V) 象素 |
统计显示：测量个数，标准差，平均值，锄耻颈大值，锄耻颈小值 |
统计报告：存储位置，测量个数，铜箔类型，线形铜线宽， 测量日期/ 时间，平均值，标准差，方差百分比，准确度， 锄耻颈高值，锄耻颈低值，值域，CPK值，单个读数，时间戳， 直方图图表：直方图，趋势图，X-R图 |
OXFORD-760配置包括： 可选配件：
(面铜应用): |
OXFORD-760主机 |
SRP-4探头 |
SRP-4探头替换用探针模块(1个） |
NIST认证的校验用标准片(2个） |
(穿孔内铜应用): |
ETP探头 |
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郑由军
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